Please use this identifier to cite or link to this item:
https://rinacional.tecnm.mx/jspui/handle/TecNM/8973| Title: | Desarrollo de espectrómetro Raman para caracterización de nanomateriales aplicados en sensores agroindustriales |
| Authors: | CARRILLO VELAZQUEZ, MANUEL DE JESUS |
| metadata.dc.subject.other: | Espectrómetro, Nanomateriales, Dispersión Inelástica |
| Issue Date: | 2024-12-12 |
| Publisher: | Tecnológico Nacional de México |
| metadata.dc.publisher.tecnm: | Instituto Tecnológico de Durango |
| Description: | La espectroscopía Raman es una técnica con grandes ventajas. Proporciona información muy importante sobre las muestras, de forma que no daña ni altera su estudio. Además, es de un procesamiento rápido y no necesita preparación para su análisis. Este fenómeno funciona a través de la dispersión inelástica de la luz, lo que significa el cambio de color de una fuente de luz monocromática al incidir sobre una muestra. Proporciona información detallada sobre la composición y estructura molecular de los materiales bajo estudio, por lo que es una herramienta muy utilizada en el área de la investigación científica e industrial. El desarrollo de un espectrómetro Raman es un gran reto, ya que es un dispositivo de alta precisión. Los componentes que lo conforma son elementos que necesitan de gran precisión para tener un funcionamiento correcto. |
| metadata.dc.type: | info:eu-repo/semantics/masterThesis |
| Appears in Collections: | Maestría en Ingeniería |
Files in This Item:
| File | Description | Size | Format | |
|---|---|---|---|---|
| MANUEL DE JESUS CARRILLO VELAZQUEZ.pdf | Texto completo | 5.92 MB | Adobe PDF | View/Open |
| Licencia de uso MANUEL CARRILLO VELAZQUEZ.pdf Until 9999-12-31 | Carta de cesión de derechos | 471.82 kB | Adobe PDF | View/Open Request a copy |
This item is protected by original copyright |
This item is licensed under a Creative Commons License
