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dc.contributor.authorVázquez Ovalle, Florencio-
dc.creatorVázquez Ovalle, Florencio#VAOF461027HSPZVL04-
dc.date.accessioned2025-04-30T18:36:17Z-
dc.date.available2025-04-30T18:36:17Z-
dc.date.issued2024-10-14-
dc.identifier.urihttps://rinacional.tecnm.mx/jspui/handle/TecNM/9731-
dc.descriptionA través de los contenidos presentados en estos apuntes, los estudiantes de la carrera de Ingeniería Mecatrónica contarán con un apoyo clave para estudiar y aplicar, de manera profesional, metodologías que les permitan analizar, obtener información y tomar decisiones relacionadas con los niveles de calidad en procesos de producción y servicios. Estas metodologías les ayudarán a desarrollar las competencias necesarias para cumplir con los atributos de egreso, facilitando además el liderazgo y la comunicación efectiva dentro de equipos de trabajo en empresas u organizaciones.es_MX
dc.language.isospaes_MX
dc.publisherTecnológico Nacional de Méxicoes_MX
dc.rights.urihttp://creativecommons.org/licenses/by-nc-nd/4.0es_MX
dc.subjectinfo:eu-repo/classification/cti/7es_MX
dc.subject.otherEstadística descriptivaes_MX
dc.subject.otherEstadística aplicadaes_MX
dc.subject.otherControl de calidades_MX
dc.subject.otherHerramientas de calidades_MX
dc.titleApuntes de estadística y control de calidades_MX
dc.typeinfo:eu-repo/semantics/bookes_MX
dc.contributor.directorVázquez Ovalle, Florencio-
dc.rights.accessinfo:eu-repo/semantics/openAccesses_MX
dc.publisher.tecnmInstituto Tecnológico de San Luis Potosíes_MX
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