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dc.contributor.authorMARTÍNEZ HERRERA, MARIO ALBERTO-
dc.creatorMARTÍNEZ HERRERA, MARIO ALBERTO#MAHM900421HCHRRR06-
dc.date.accessioned2026-02-27T18:36:56Z-
dc.date.available2026-02-27T18:36:56Z-
dc.date.issued2026-01-01-
dc.identifier.urihttps://rinacional.tecnm.mx/jspui/handle/TecNM/12259-
dc.descriptionDurante a˜nos recientes la perfilometr´ıa por proyecci´on de franjas ha sido una de las ´areas de investigaci´on m´as activas dentro de la metrolog´ıa ´optica. En las ´ultimas d´ecadas una gran cantidad de m´etodos de an´alisis se han desarrollado. En dicha t´ecnica se hace incidir un patr´on de luz estructurada sobre un objeto para, a trav´es del registro de una imagen y su procesamiento, reconstruir la distribuci´on de alturas de la superficie del objeto. Debido a la baja dependencia de su precisi´on de medici´on con respecto de la frecuencia de las franjas y de los algoritmos de desenvolvimiento de fase, la perfilometr´ıa de proyecci´on de franjas conc´entricas ha emergido como alternativa a las franjas lineales regularmente usadas. La presente investigaci´on plantea reconstruir la distribuci´on topogr´afica de la superficie de objetos a trav´es del patr´on de franjas conc´entricas proyectado por un arreglo con una fuente l´aser y una lente c´onica. Tal arreglo proyecta un perfil de intensidad asociado a un haz del tipo Bessel o Bessel-Gauss, el cual, cuenta con un punto de luz central (spot) y un patr´on de anillos conc´entricos a ´el. El arreglo experimental permite la capacidad de modular el patr´on de franjas conc´entricas mencionado para reconstruir las alturas y detalles de las superficies de objetos en diferentes ´ordenes de magnitud.es_MX
dc.language.isospaes_MX
dc.publisherTecnológico Nacional de Méxicoes_MX
dc.rights.urihttp://creativecommons.org/licenses/by-nc-nd/4.0es_MX
dc.subjectinfo:eu-repo/classification/cti/7es_MX
dc.subject.otherRECONSTRUCCIÓN 3D A PARTIR DE PATRONES CONCÉNTRICOSes_MX
dc.titleRECONSTRUCCIÓN 3D A PARTIR DE PATRONES CONCÉNTRICOSes_MX
dc.typeinfo:eu-repo/semantics/masterThesises_MX
dc.contributor.directorAnguiano Morales, Marcelino#AUMM67042694A-
dc.rights.accessinfo:eu-repo/semantics/openAccesses_MX
dc.publisher.tecnmInstituto Tecnológico de Chihuahuaes_MX
Appears in Collections:Maestría en Ciencias en Ingeniería Electrónica

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