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Campo DC Valor Lengua/Idioma
dc.contributor.authorJoya de la Cruz, Ivan Daniel%1032515-
dc.creatorJoya de la Cruz, Ivan Daniel%1032515-
dc.date.accessioned2022-09-01T22:28:35Z-
dc.date.available2022-09-01T22:28:35Z-
dc.date.issued2022-04-08-
dc.identifier.urihttps://rinacional.tecnm.mx/jspui/handle/TecNM/4422-
dc.descriptionLas arquitecturas de software han evolucionado en las últimas décadas, en general de arquitecturas monolíticas hacia las orientadas a servicios, en este proceso de transición los mecanismos para evaluar la calidad de arquitecturas previas a la de microservicios requieren de cambios para su aplicación. En este proceso de transición hacia arquitecturas de microservicios, las métricas constituyen medidas que permiten evaluar objetivamente la calidad arquitectónica de los microservicios proporcionando a desarrolladores y arquitectos indicaciones claras de deficiencias y errores. En este trabajo se presenta un estudio de las métricas utilizadas en arquitecturas orientadas a objetos para su adaptación hacia arquitecturas orientadas a microservicios. El resultado fue la adaptación de la métrica RFC (Response For a Class) a través de la creación de las métricas NIU (Número de Interfaces Utilizadas) y NO (Número de Operaciones). Las métricas fueron probadas en repositorios de microservicios, con la ejecución de seis casos de prueba, obteniendo resultados que muestran la comunicación de los microservicios y el entendimiento en su funcionamiento interno.es_MX
dc.language.isospaes_MX
dc.publisherTecnológico Nacional de Méxicoes_MX
dc.rights.urihttp://creativecommons.org/licenses/by-nc-nd/4.0es_MX
dc.subjectinfo:eu-repo/classification/cti/7es_MX
dc.titleSelección y adaptación de métricas para Microservicioses_MX
dc.typeinfo:eu-repo/semantics/masterThesises_MX
dc.contributor.directorRojas Perez, Juan Carlos%206939-
dc.contributor.directorFragoso Diaz, Olivia Graciela%58849-
dc.folio22-0126es_MX
dc.rights.accessinfo:eu-repo/semantics/openAccesses_MX
dc.publisher.tecnmCentro Nacional de Investigación y Desarrollo Tecnológicoes_MX
Aparece en las colecciones: Tesis de Maestría en Computación

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