1. Repositorio Institucional del Tecnológico Nacional de México (RI - TecNM)
2. Tesis de Posgrado
3. Morelos
4. Centro Nacional de Investigación y Desarrollo Tecnológico
5. Tesis CENIDET
6. Tesis de Maestría
7. Tesis de Maestría en Ingeniería Electrónica

Título:	Pruebas HALT de Temperatura y Humedad en un Circuito de Gobierno de un Convertidor Elevador
Autor:	Lopez Romay, Jose de Jesus%1084318
Data:	2022-11-30
Editora:	Tecnológico Nacional de México
metadata.dc.publisher.tecnm:	Centro Nacional de Investigación y Desarrollo Tecnológico
Descrição:	Hoy en día, muchos productos electrónicos de bajo costo anuncian vidas útiles en el orden de miles de horas. Sin embargo, prevalece la interrogante de cómo verificar la durabilidad e identificar fallas en el diseño. Separar una muestra de un lote de producción y ponerla a funcionar hasta que falle es poco práctico. Debido a que es fundamental obtener aparatos duraderos, se recurre a técnicas de maximización de la confiabilidad, entre las cuales figuran las pruebas aceleradas. De acuerdo al objetivo, las pruebas pueden ser de vida acelerada (considerando la ecuación de Arrhenius), o pruebas HALT (Highly Accelerated Limit Test; IEC 62506 2013, p. 10) para identificar con rapidez límites y debilidades en un producto. Las pruebas HALT se aplican como estrategia para apresurar el envejecimiento de los productos y determinar si se presenta una falla reversible o catastrófica. Además, ayudan a identificar puntos débiles en el diseño y construcción del prototipo. Para ello, el producto se somete a esfuerzos cuya intensidad va aumentando en sentido positivo, primero, y después en sentido negativo (como es el caso de la temperatura). Por otro lado, el tiempo para alcanzar la saturación en humedad de un componente electrónico depende principalmente de las dimensiones del material. Lo anterior es relevante debido a que normalmente en un prototipo se utilizan componentes de diferentes medidas; esto sugiere que, en un proceso HALT, serán los componentes de menor dimensión los primeros en presentar una falla parámetrica; por lo anterior, se sometió el circuito de control del convertidor elevador a las pruebas HALT. En el circuito de control del convertidor elevador, para un valor dado de humedad relativa se aplicaron en principio dos secuencias de temperaturas, primero en aumento a partir de la ambiental, y después en disminución. Una vez alcanzados los límites de temperatura, se modificó el nivel de humedad y se repitieron las secuencias; se aplicaron en total nueve valores de humedad relativa. Se monitoreó la frecuencia de conmutación fS y el ciclo de trabajo D del TL494CN para evidenciar si ocurría una falla catastrófica. Con los valores máximos y mínimos de fS y D obtenidos de las pruebas HALT se desarrollaron simulaciones en Orcad para analizar el comportamiento del rizo de voltaje a la salida del convertidor elevador. Con D = 85.76% se obtuvieron valores demasiado altos en el voltaje de salida y en la amplitud del rizo de voltaje en régimen permanente del convertidor elevador, esto en comparación con las primeras cuatro simulaciones de un total de ocho realizadas.
metadata.dc.type:	info:eu-repo/semantics/masterThesis
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