1. Repositorio Institucional del Tecnológico Nacional de México (RI - TecNM)
2. Tesis de Posgrado
3. Jalisco
4. Instituto Tecnológico de Cd. Guzmán
5. Tesis de Licenciatura
6. Ingeniería Electrónica

Título :	ESTACIÓN AUTOMATIZADA PARA VERIFICACIÓN DE FUNCIONALIDAD DE DISPOSITIVO TÁCTIL P450
Autor :	GARCÍA ALONSO, CRISTIAN ALEXANDRO
metadata.dc.subject.other:	Prueba funcional, FVT, automatización industrial, desarrollo de pruebas, sistema de visión, tarjeta de adquisición de datos, actuadores neumáticos, Jabil test
Fecha de publicación :	2019-10-01
Editorial :	Tecnológico Nacional de México
metadata.dc.publisher.tecnm:	Instituto Tecnológico de Ciudad Guzmán
Descripción :	En Jabil agilizar la manufactura y prueba de funcionalidad del dispositivo P450 de Landis es prioridad para cumplir con la creciente demanda del cliente que cumpla sus requerimientos de productividad y calidad. El objetivo del proyecto fue implementar una estación de prueba de funcionalidad (FVT, functional verification test) automática para dicho dispositivo, cumpliendo las especificaciones de diseño y rendimiento del cliente. La estación se realizó mediante la integración de software y hardware especializado para el desarrollo de pruebas en Jabil, el centro de la integración es Jabil test que en el cual se enlazan los siguientes elementos: tarjeta de adquisición de datos, sistema de visión, unidad de prueba (DUT, Device under test), multímetro digital, impresora Zebra y actuadores neumáticos. La estación se validó mediante un estudio de reproductividad y repetibilidad (R&R, Reproductivity and Repetibility), que se optimizo mediante 100 unidades de prueba. Actualmente se encuentra en línea de producción, y tiene la capacidad de realizar la prueba en dos unidades de forma paralela, cada prueba tiene una duración de alrededor de 3 minutos, es decir cada 3 minutos la estación realiza la prueba funcional dos unidades. Los resultados fueron satisfactorios. En ocasiones se asiste con soporte remoto a la estación cuando se presentan casos particulares, esto ocurre en muy poca frecuencia.
metadata.dc.type:	info:eu-repo/semantics/bachelorThesis
Aparece en las colecciones:	Ingeniería Electrónica

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