1. Repositorio Institucional del Tecnológico Nacional de México (RI - TecNM)
2. Tesis de Posgrado
3. Chihuahua
4. Instituto Tecnológico de Chihuahua
5. Tesis de Maestría
6. Maestría en Ciencias en Ingeniería Electrónica

Titre:	MEDICIÓN DE SUPERFICIES 3D BASADA EN LOS MÉTODOS DE TRANSFORMADA DE FOURIER Y CORRIMIENTO DE FASE
Auteur(s):	PÉREZ SANTOS, ALEJANDRO DE JESÚS
metadata.dc.subject.other:	MEDICIÓN DE SUPERFICIES 3D BASADA EN LOS MÉTODOS DE TRANSFORMADA DE FOURIER Y CORRIMIENTO DE FASE
Date de publication:	2026-01-01
Editeur:	Tecnológico Nacional de México
metadata.dc.publisher.tecnm:	Instituto Tecnológico de Chihuahua
Description:	El método de corrimiento de fase y el método de la transformada de Fourier son métodos de análisis de franjas. Este trabajo se centra en la implementación de estos dos métodos para extraer la información topográfica que está codificada en los patrones de franjas obtenidos por la proyección digital de franjas. Se propone un método que emplea la combinación del método de corrimiento de fase y el método de la transformada de Fourier para obtener una representación espectraffsl eficiente de la forma 3-D del objeto bajo prueba. Este método de cambio de fase utiliza dos patrones de franjas de colores con una diferencia de fase de π radianes, esto generá dos imágenes, eliminanando eficazmente la luz de fondo y proporciona una distribución de modulación más precisa. En comparación con el método de desplazamiento de fase de tres pasos y el método de la transformada de Fourier, con sólo una menor parte de la adquisición de datos en el método de corrimiento de fase, el método propuesto puede lograr casi la misma precisión de medición que aquél, pero con una precisión de medición mayor que el método de la transformada de Fourier.
metadata.dc.type:	info:eu-repo/semantics/masterThesis
Collection(s) :	Maestría en Ciencias en Ingeniería Electrónica

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